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老化测试系统
BI4201 老化测试系统 可以提供实时监控的温度环境，对光器件（例如 VCSELs, PIN 或 APD）以及 收发模块 进行老化测试。被测器件可以是封装好的器件或其它形 式配合不同的测试夹具。BI4201 由老化板（测试夹 具）、温箱、电源、控制检测及风扇系统组成。每块老 化板独立供电和监控。且系统支持数据库，系统软件可以支持上传或下载老化数据，利用系统集成的“Quick Check”功能，可以非常方便的准实时查询每个模块 或器件的信息。同时为了确保系统可靠地在温箱内工作于 40~85oC， 每块老化子板具有独立的温度传感器和风扇控制系统，系统会自动更具反馈系统检测到的电压及温度信息，调 节风扇转速，以确保整个温箱内部温度的均匀性，同时 实时监控可以在探测到失效条件下及时发出告警，并切 断老化子板的电源，以避免昂贵的器件及模块大面积失效。BI4201 的整体架构通过集成通用器件和驱动电路，从 而显著降低了系统的成本。系统尺寸可以根据用户需求进一步优化。
² 本系统可以集成温箱、电源、控制电路、LIV 测 试系统及基于数据库的系统软件；
² 标准系统支持同时测量 384 pcs (O/E 器件系统) 或 224 pcs (100G 收发模块系统)，同时系统具有很大的灵活
度，可以根据用户空间和具体要求定制化；
² 清晰直观及灵活有好的用户使用界面，可以方便查询模块器件的信息机状态；
² 系统支持可编程的告警状态及提醒功能；
² 图形化显示器件性能老化前后的劣化；
² 全部结果支持数据库记录和导出；
² 支持 LIV 测试(可选件)；
² 支持 LIV 扫描及单点测试。
BI4201-OE OE 老化系统
BI4201-OE 选件是专门针对 OE 器件老化的系统，该系统在温箱内由 8 个子系统，且每个子系统支持 6 个老化 板，每个老化板支持 8 个 OE 器件，总共单个温箱支持8*6*8=384pcs 器件 (VCSEL/PD/APD) 同时老化。每个 Panel 背板上带有 4 只温度监控芯片，整个系统共 有 4*6*8=192 只温度监控芯片，可以对烤箱内部做温度的立体监控;烤箱内部配有风扇，每 4pcs 模块配有一个风扇，根据 监控到的温度再微调风扇转速，以保证内部温度的均匀 性;系统对每个风扇实时监控，以及时发现故障风扇
;
BI4201-MOD 模块老化系统
BI4201-MOD 选件是专门针对 100G 收发模块老化的系统，该系统在温箱内由 4 个子系统，且每个子系统支持7个老化板，每个老化板支持 8 个 100G 收发模块，总共单个温箱支持 4*7*8=224pcs 器件 (100G 收发模块)同时老化。
烤箱内部做温度的立体监控。电压传感器能够确保每个模块工作在标称电压下；烤箱内部配有风扇，每 4pcs 模块配有一
个风扇，根据 监控到的温度再微调风扇转速，以保证内部温度的均匀 性;系统对每个风扇实时监控，以及时发现故障风
扇;系统电源采用四个 500W 带补偿功能的开关电源，以确保模块可以获得稳定电源，每只模块允许最大功耗为5W。烤
箱内部配有风扇，平均每16pcs 模块配有 3 个风扇， 根据监控到的温度再微调风扇转速，以保证内部温度的 均匀性。
BI4201-LIV LIV 测试系统
BI4201-LIV 选件是针对器件 LIV 测试应用的，LIV 测试系统能够自动比较 48 小时或 96 小时老化前后的 LIV 测试结果，从而做出筛选。同时 LIV 系统兼具 FW Load 功能，可以一次性对 2 个 Panel 同时进行 FW Load
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Oven # |
Full Loading Temperature/℃ Half Loading Temperature/℃ |
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Min Max Min Max | |
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1 |
85.8 98.8 87.8 96.8 |
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2 |
85.5 99.6 85.6 98.9 |
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3 |
86 96.1 87.1 99.4 |
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4 |
84 97 84.7 98.5 |
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5 |
84.2 96 85.8 98.3 |
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6 |
85.1 96.7 85.1 98.9 |
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7 |
85.2 99.2 85.4 96.8 |
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8 |
85 97.9 86 97.8 |
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9 |
86 95.4 84.6 96.2 |
高精度 LIV 测试
老化系统工作流程
